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涂層板材多層測厚儀

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產品名稱: 涂層板材多層測厚儀
產品型號: CMX1-DL
產品展商: 美國DAKOTA
產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

美國DAKOTA公司CMX1和CMX-DL多功能超聲波測厚儀，可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據需求選擇不同的功能配置，以獲得更好的性價比。量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據需求選擇不同的功能配置，以獲得*佳的性價比。

涂層板材多層測厚儀

的詳細介紹

CMX系列超小型多層厚度（基體和涂層）測厚儀

多種測量方式： 模式一：僅測量基體厚度 模式二：僅測量涂層厚度 模式三：同時測量基體和涂層的厚度 美國DAKOTA公司CMX2-DL/CMX3-DL多功能超聲波測厚儀，帶A/B掃描功能，可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據需求選擇不同的功能配置，以獲得更好的性價比。 CMX2-DL為灰度顯示屏，CMX3-DL彩屏顯示。   儀器特點 - - - - - - - - - 100MHz FPGA時序電路設計 可選彩色和灰度顯示屏 A/B掃描 手動調節增益和自動增益控制 (AGC)，范圍：110dB 自動時間相關增益(TDG) 多種測量模式 脈沖-回波(P-E)模式：測量材料厚度 脈沖-回波涂層(PECT)模式：同時測量材料和涂層厚度 脈沖-回波溫度補償(PETP)模式：測量材料厚度 回波-回波(E-E)模式：穿過涂層測量材料厚度 回波-回波驗證(E-EV)模式： 穿過涂層測量材料厚度 測量涂層(CT)模式：只測量涂層厚度 可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭) USB Type-C數據接口 內置4GB SD存儲卡   技術參數   測量   脈沖-回波(P-E)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼) 脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼)，0.0254~2.54mm(涂層) 脈沖-回波溫度補償(PETP)模式 測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼) 回波-回波(E-E)模式測量范圍：2.54～152.4mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化) 回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍：2.54～102mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化) 測量涂層(CT)模式測量范圍：0.0127~2.54mm(涂層) 分辨率：0.01mm 聲速范圍：309.88～18542m/s 單位：公制或英制 校準：一點和兩點校準方式   顯示   CMX2-DL顯示屏：1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素。可視區62x45.7mm，EL背光； CMX3-DL顯示屏：1/4英寸AMOLED彩色顯示屏，320x240象素 A-掃描方式：檢波+/-(缺陷視場)，RF(全波視場)。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)。縱向和橫向視圖(彩色顯示屏) B-掃描方式：基于時間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個讀數 大數字方式：標準厚度顯示，數字高度17.78mm(CMX2-DL)/14.35mm(CMX3-DL) 厚度條形掃描：速度33Hz，在B-掃描和大數字顯示中可見 穩定度指示：表示測量值的穩定性 功能狀態指示：顯示當前激活的功能   超聲波參數   測量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT 脈沖：可調方波脈沖發生器 接收：根據選擇模式在110dB范圍內采用手動或AGC增益控制，阻抗50~1500Ω可調 計時：單次8位100MHz超低功耗數字化儀的**TCXO計時 脈沖重復頻率：250Hz   探頭   頻率范圍：1~20MHz 雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式) LEMO接口，1.2米探頭線   存儲   容量：內置4GB SD卡 數據結構：網格(字母數字)和順序(自動識別) 截屏功能：位圖圖形捕獲，用于快速記錄 數據輸出：通過USB Type-C連接的計算機   功能   設置：64個用戶定義設置，用戶也可編輯出廠設置 探頭類型可選：內置雙路誤差校正，提高線性度 報警模式：上下限視聽報警 快速掃描模式：每秒250個讀數，當探頭離開時顯示*小值   其他   鍵盤：12個觸摸鍵 電源：標配為三節5號堿性電池 ，可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態指示。無操作五分鐘后自動關機。USB Type-C供電 外殼：擠壓鋁機殼，底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝 工作溫度：-10～60℃ 尺寸重量：63.5x165x31.5mm，含電池385g 包裝：ABS工程塑料箱 出廠證書：工廠校準可追溯到NIST和MILSTD-45662A標準     雙晶探頭    型號    頻率    探頭晶片直徑    探頭防磨面直徑    測量范圍    說明    T-102-2900    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0～152mm    標準CT探頭(可測涂層厚度)    T-101-2900    5.0MHz    4.76mm    6.35mm    1.0～50mm    小管徑CT探頭    T-102-3300    7.5MHz    6.35mm    9.53mm    0.63～152mm    超薄探頭    T-104-2900    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27～508mm    超厚CT探頭    T-042-2000    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0～152mm    標準高溫探頭，*高340℃    T-044-2000    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27～508mm    超厚高溫探頭，*高340℃    T-212-2001    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0～152mm    超高溫探頭，*高480℃    T-214-2001    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27～508mm    超厚超高溫探頭，*高480℃ 注：測試高溫表面時需用高溫耦合劑   單晶探頭    探頭型號    頻率    描述    說明    T-402-5507    15MHz    晶片?6.35mm    標準延遲塊探頭    T-402-6507    20MHz    晶片?6.35mm    延遲塊探頭    T-4903-2875    5MHz    晶片?3.18mm，防磨面?6.35mm    接觸式探頭    T-4903-4875    10MHz    晶片?3.18mm，防磨面?6.35mm    接觸式探頭    T-4023-2855    5MHz    晶片?6.35mm，防磨面?9.53mm    接觸式探頭    T-4023-4855    10MHz    晶片?6.35mm，防磨面?9.53mm    接觸式探頭    T-481-4507    10MHz    延遲塊前端?1.59mm    筆式探頭

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